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    IC分選設備的技術特征




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        一種自動化IC測試分選設備,其特征在于:包括安裝于機架(1)的且自上而下依次設置的上料裝置(100)、測試裝置(200)和分選收料裝置(300),所述機架包括垂直設置的第一安裝板(2008)以及與所述第一安裝板的底部連接且傾斜設置的第二安裝板(3001)。


        IC料管(1001)裝夾于上料裝置,通過所述上料裝置將所述IC料管內的未測試的IC芯片(2009)供給所述測試裝置測試,測試完畢后通過所述分選收料裝置分類并收納于多個空料管(3009)內。

        所述上料裝置包括水平設置的載料臺(1002)、用于將所述IC料管內的IC芯片取出的上料機構(1003)和用于所述IC芯片傳輸的垂直料道(1004),所述載料臺位于所述第一安裝板的上方,所述垂直料道安裝于所述第一安裝板且與所述載料臺垂直。

        所述載料臺設有料倉(1005)和推送機構(1006),所述IC料管水平疊加放置于所述料倉內,所述推送機構位于所述料倉的底端,所述推送機構包括上料滑塊(10061)和驅動所述上料滑塊的驅動單元(10062),所述上料滑塊能夠夾持所述料倉內的一個所述IC料管并通過所述驅動單元將其推出至所述載料臺的預定位置。




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